產品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置:首頁
產品中心
微弱信號數據采集器
時間相關單光子計數器
TC - 300時間相關單光子計數器

產品簡介
TC-300 新一代時間相關單光子計數(TCSPC)模塊,采用高速 TDC 數字計時架構,具備高計時精度、超低死時間、寬時間窗口等特點,可滿足納秒至秒級熒光壽命測試需求,廣泛應用于時間分辨熒光(TRPL)、熒光壽命成像(FLIM)、磷光壽命(PLIM)、熒光相關光譜(FCS)等研究領域。
產品分類
相關文章
? 產品概述:
TC-300 新一代時間相關單光子計數(TCSPC)模塊,采用高速 TDC 數字計時架構,具備高計時精度、超低死時間、寬時間窗口等特點,可滿足納秒至秒級熒光壽命測試需求,廣泛應用于時間分辨熒光(TRPL)、熒光壽命成像(FLIM)、磷光壽命(PLIM)、熒光相關光譜(FCS)等研究領域。
? 核心優勢:
u 10 ps高計時精度
u 10 ns超低死時間
u FIFO + MCS雙模式采集
u 寬時域范圍,兼容熒光和磷光
u 全自主研發軟硬件平臺
u 千兆以太網接口,易于集成
? 主要功能:
u 時間分辨熒光 (TRPL)
u 熒光壽命成像 (FLIM)
u 磷光壽命成像 (PLIM)
u 熒光相關光譜 (FCS)
u 熒光共振能量轉移 (FRET)
u 時間分辨陰極發光 (TRCL)
? 應用領域:
u 半導體材料
u 鈣鈦礦材料
u 二維材料
u 發光材料
u 生物成像
u 光電子器件
? 時間分辨熒光(TRPL)測試



熒光粉 鈣鈦礦 RuCl2
在熒光粉、鈣鈦礦薄膜及 RuCl? 等典型樣品測試中,與國際主流 TCSPC 產品具有一致的測試表現,可穩定獲得高信噪比熒光壽命數據。
? 寬時域熒光/磷光壽命測試與表征


Tc - FR Tc - 2BrFR
支持 MCS 長壽命采集模式,時間窗口覆蓋 1 μs~100 s,可實現毫秒至秒級磷光及超長余輝材料壽命測試。
? 熒光壽命成像(FLIM)測試

細胞 鈣鈦礦薄膜
可實現高分辨率熒光壽命成像測試,適用于生物樣品及半導體材料等應用。
? 配套軟件

FluoTrace 采集軟件

FluoView 分析軟件
提供數據采集、壽命擬合、圖像分析等完整的軟件解決方案,實現測試與分析一體化。
? 技術規格
型號 | TC-300 |
工作原理 | Time-to-Digital Converters(TDC) |
計時精度 | 10 ps |
時間窗口 (FIFO) | ≥25 ns (取決于激光重頻) |
時間窗口 (MCS) | 1 μs - 100 s |
死時間 | 10 ns |
飽和計數率 | 10 MHz |
零交叉窗口 | -100 ~ 100 mV |
PC 接口類型 | 千兆以太網端口 |
時間通道數 | User Defined |
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號:滬ICP備19020138號-2
技術支持:化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統