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產(chǎn)品中心光電光譜測(cè)試系統(tǒng)熒光成像系統(tǒng)RapidView300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
RapidView300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)，是一種利用激光精密掃描、時(shí)間分辨采集和圖像處理技術(shù)獲得材料微納尺度空間內(nèi)光物理性質(zhì)的高精密儀器設(shè)備，是目前優(yōu)良的時(shí)間分辨熒光分析儀器之一。
產(chǎn)品分類(lèi)
? 系統(tǒng)概述
RapidView300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)，是一種利用激光精密掃描、時(shí)間分辨采集和圖像處理技術(shù)獲得材料微納尺度空間內(nèi)光物理性質(zhì)的高精密儀器設(shè)備，是目前優(yōu)良的時(shí)間分辨熒光分析儀器之一。 其通過(guò)搭載高速掃描振鏡，來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品熒光強(qiáng)度（壽命）的高效采集，僅需要幾秒鐘，即可獲得一幅高質(zhì)量的熒光強(qiáng)度（壽命）成像圖。并且針對(duì)具有長(zhǎng)距離載流子遷移特性的樣品，可以通過(guò)激發(fā)點(diǎn)固定、熒光采集掃描模式即可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品載流子遷移過(guò)程的探測(cè)。 本系統(tǒng)亦可與低溫裝置、（瞬態(tài)）光電流/光電電壓探測(cè)裝置和脈沖電壓裝置等相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)多種外場(chǎng)條件下的熒光動(dòng)力學(xué)探測(cè)、高空間分辨的光電流成像、電致發(fā)光動(dòng)力學(xué)和成像等多種探測(cè)功能。 |
? 核心功能
n 熒光強(qiáng)度（壽命）成像 n 可設(shè)置成像掃描速度 n 光斑位置程控可調(diào) n 可調(diào)節(jié)掃描區(qū)域以及放大倍數(shù) n 熒光壽命數(shù)據(jù)自動(dòng)擬合 n 可定點(diǎn)激發(fā)，觀測(cè)載流子擴(kuò)散 n 可選擇掃描像素點(diǎn)，最高4096x4096 |
? 系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo) |
激光掃描振鏡模塊參數(shù) | |
進(jìn)光方式 | 激光光纖輸入，配電控光闌系統(tǒng) |
掃描成像范圍 | 4096*4096 pix（Max） |
掃描尺寸范圍 | 100 μm × 100 μm |
掃描波長(zhǎng)范圍 | 350-900 nm |
掃描速度 | 0.8 s / 幀 |
倒置顯微鏡模塊 | |
物鏡 | 100x, 50x, 10x 空氣鏡（可選配油鏡） |
最高空間分辨率 | ≤260 nm |
穩(wěn)態(tài)光譜檢測(cè)模塊 | |
單色儀焦距 | 300 mm |
探測(cè)器 | PMT/ CCD |
波長(zhǎng)探測(cè)范圍 | 300-900 nm |
TCSPC模塊 | |
時(shí)間精度 | 7 ps |
光譜檢測(cè)范圍 | 350-900 nm |
Bin通道數(shù) | 4096 |
時(shí)間窗口 | 5 μs（可拓展長(zhǎng)壽命檢測(cè)） |
時(shí)間分辨率 | ≤70 ps |
最高時(shí)間分辨率 | 50 ps |
選配模塊 |
皮秒半導(dǎo)體激光器375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060 nm |
可選皮秒超連續(xù)白光激光器410 nm-2400 nm，配濾波器實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)可調(diào) |
? 熒光強(qiáng)度成像、熒光壽命成像
熒光強(qiáng)度和熒光壽命成像為本系統(tǒng)基本功能，可對(duì)微納尺度樣品或樣品微納空間結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速的激光掃描的共聚焦熒光成像，可同時(shí)獲得熒光強(qiáng)度和熒光壽命空間分布信息，列舉核心參數(shù)，時(shí)間分辨率，空間分辨率等。
ü 實(shí)例1
樣品名稱(chēng) | MAPbI3 單晶納米片和MAPbI3 納米線 |
物鏡 | 100X |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405 nm |
成像模式 | 共聚焦掃描成像模式 |
光學(xué)明場(chǎng)成像 熒光強(qiáng)度 熒光壽命
ü 實(shí)例2
樣品名稱(chēng) | 半導(dǎo)體器件 |
物鏡 | 100X |
激發(fā)波長(zhǎng) | 500nm（不同變溫環(huán)境） |
采集模式 | 單點(diǎn)熒光光譜，熒光壽命采集 |
熒光光譜 熒光壽命
ü 實(shí)例3
樣品名稱(chēng) | 甲胺鉛碘鈣鈦礦多晶薄膜 |
物鏡 | 100X（油鏡） |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405 nm |
成像模式 | 共聚焦掃描成像模式 |
|
1、通過(guò)分析a到b的熒光強(qiáng)度變化，獲取最高空間分辨率可達(dá) ~260 nm（最高空間分辨率達(dá)到衍射極限）。
2、可有效識(shí)別鈣鈦礦多晶薄膜中晶粒晶界等復(fù)雜結(jié)構(gòu)。
? 載流子遷移動(dòng)力學(xué)成像
針對(duì)具有長(zhǎng)距離載流子遷移特性的樣品，可以通過(guò)激發(fā)點(diǎn)固定、熒光采集掃描模式實(shí)現(xiàn)樣品載流子遷移過(guò)程的探測(cè)。
ü 實(shí)例1
樣品名稱(chēng) | CH3NH3PbI3納米線 |
物鏡 | 100X |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405nm |
成像模式 | 共聚焦掃描成像模式、載流子遷移成像模式 |
激發(fā)固定熒光采集掃描成像圖（時(shí)間積分圖） 提取不同位置的熒光動(dòng)力學(xué)曲線
分時(shí)成像圖
ü 實(shí)例2
樣品名稱(chēng) | 鈣鈦礦多晶薄膜 |
物鏡 | 100X |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405nm |
成像模式 | 共聚焦掃描成像模式、載流子遷移成像模式 |
激發(fā)固定熒光采集掃描成像圖（時(shí)間積分圖） 定點(diǎn)提取動(dòng)力學(xué)
? 高分辨率QFLS和PLQE成像
鈣鈦礦薄膜準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)分裂(QFLS)成像 鈣鈦礦薄膜熒光量子效率(PLQE)成像
PL譜擬合
? 電致發(fā)光（EL）強(qiáng)度成像和動(dòng)力學(xué)成像
本熒光成像系統(tǒng)通過(guò)結(jié)合電脈沖發(fā)生器實(shí)現(xiàn)樣品（例如LED器件或材料）電致發(fā)光（EL）動(dòng)力學(xué)和成像檢測(cè)，可以同時(shí)兼容熒光強(qiáng)度、熒光壽命和熒光/EL發(fā)射譜的檢測(cè)。其檢測(cè)原理是利用TCSPC技術(shù)，實(shí)現(xiàn)電脈沖條件下樣品發(fā)光的動(dòng)力學(xué)演化過(guò)程和EL空間成像。
明場(chǎng) （電極面） EL強(qiáng)度成像（玻璃面）
ü 實(shí)例1
量子點(diǎn)LED器件的EL動(dòng)力學(xué)和成像
樣品名稱(chēng) | CdSe / ZnSe / Zns量子點(diǎn)LED器件 |
物鏡 | 4X空氣鏡 |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405nm |
電壓 | 10V |
脈寬/頻率 | 10us/10KHz |
采集時(shí)間 | 28min |
時(shí)間精度 | 25ns |
1、通過(guò)提取EL動(dòng)力學(xué)，觀測(cè)不同微納區(qū)域點(diǎn)EL動(dòng)力學(xué)的差別和變化及overshoot等現(xiàn)象
2、通過(guò)持續(xù)采集EL成像，可實(shí)現(xiàn)LED老化過(guò)程的觀測(cè)
3、可觀測(cè)到LED發(fā)光層的EL分布情況，發(fā)現(xiàn)存在的壞點(diǎn)區(qū)域
EL成像 可提取特定位置點(diǎn)（1，2，3，4）EL動(dòng)力學(xué)
EL上升沿動(dòng)力學(xué) EL下降沿動(dòng)力學(xué)
? 光電流成像
本熒光成像系統(tǒng)通過(guò)結(jié)合源表（picoammeter) 實(shí)現(xiàn)樣品（太陽(yáng)能電池或光電探測(cè)材料）光電流成像，微納空間I-V曲線等采集和成像，可以同時(shí)兼容熒光強(qiáng)度、熒光壽命和熒光發(fā)射譜的檢測(cè)。其檢測(cè)原理是聚焦后的激光光斑通過(guò)振鏡在樣品上掃描，采集光電流或其他光電參數(shù)。
鈣鈦礦電池?zé)晒鈴?qiáng)度成像 光電流成像(ITO＜0.2 mm)
ü 實(shí)例1
樣品名稱(chēng) | 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池器件 |
物鏡 | 100X油鏡 |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405nm |
掃描尺寸 | 256*256像素 |
空間分辨率 | 光電流< 500 nm, 熒光：~260nm |
采集時(shí)間 | 30min |
掃描模式 | CW（光電流）和脈沖模式（熒光） |
1、可清晰分辨電池晶粒、晶界等空間結(jié)構(gòu)和不同晶粒之間的光電流分布狀況。
2、可兼容采集熒光強(qiáng)度和熒光壽命成像，分析光電流產(chǎn)生機(jī)制。
電池性能
器件條件直接成像
大范圍成像
? 調(diào)控激發(fā)光功率密度測(cè)試贗J-V成像
明場(chǎng)照片 PL強(qiáng)度成像 不同點(diǎn)的贗J-V曲線對(duì)比
光學(xué)PCE 填充因子(Filling factor) 二極管理想因子(Nid) 隱含開(kāi)路電壓(iVOC) 成像
? 低溫艙內(nèi)的熒光成像
本熒光成像系統(tǒng)可以和顯微鏡用低溫裝置組合，根據(jù)低溫裝置的參數(shù)，選配不同工作距離的物鏡，實(shí)現(xiàn)熒光信息的高效采集。可進(jìn)行不同溫度下的熒光強(qiáng)度、熒光壽命、載流子遷移、熒光發(fā)射譜等多種成像和數(shù)據(jù)的采集。
ü 實(shí)例1
樣品名稱(chēng) | MAPbI3 納米線 |
物鏡 | 100X 空氣鏡 |
激發(fā)波長(zhǎng) | 405nm |
掃描模式 | 共聚焦掃描成像模式 |
工作距離 | 6mm |
空間分辨率 | ＜1um |
1、熒光發(fā)射譜展示出鈣鈦礦納米線溫度降低時(shí)的相變過(guò)程
2、多波長(zhǎng)通道成像采集，獲得該納米線不同波長(zhǎng)位置的溫度依賴(lài)熒光成像
低溫艙內(nèi)MAPbI3 納米線 不同溫度下的熒光發(fā)射譜圖
采集通道1 731-764 nm 低溫相熒光成像集
采集通道2 775-797 nm 高溫（室溫）相熒光成像
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)五樓
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