?   產(chǎn)品概述

SHG1030 二次諧波測試系統(tǒng)是一套基于非線性光學(xué)效應(yīng)的顯微測試平臺，通過1030 nm激光激發(fā)樣品產(chǎn)生二次諧波（SHG）信號，實現(xiàn)材料晶體結(jié)構(gòu)、晶向分布及非線性光學(xué)特性的表征分析。

系統(tǒng)主要由1030 nm激發(fā)模塊、偏振控制模塊、正置顯微鏡模塊、信號探測模塊、二維電動掃描模塊及數(shù)據(jù)采集分析軟件組成。集成顯微成像、高靈敏探測及自動掃描功能，可實現(xiàn)SHG光譜測試、偏振SHG測試、SHG Mapping成像及功率依賴SHG測試，適用于二維材料、寬禁帶半導(dǎo)體及非線性光學(xué)晶體等領(lǐng)域研究。

?   核心優(yōu)勢

n  無需旋轉(zhuǎn)樣品：電動旋轉(zhuǎn)波片自動調(diào)節(jié)偏振狀態(tài)。

n  高靈敏信號檢測：PMT實現(xiàn)微弱SHG信號檢測。

n  自動掃描成像：同步觸發(fā)快速獲取Mapping結(jié)果。

n  模塊化拓展：支持SHG、PL及Raman拓展。

?   關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)

注：支持根據(jù)用戶需求擴展不同激光波長、探測器及測試模塊。

?   主要功能

n  偏振SHG測試與成像

通過改變激發(fā)光偏振方向，記錄SHG信號強度隨偏振角變化規(guī)律，用于材料晶向及晶體對稱性分析。

         明場成像                                                                     SHG極化圖                                                                   SHG成像圖

n  WS?樣品SHG測試

以單層WS?為例，系統(tǒng)可實現(xiàn)不同偏振條件下的SHG響應(yīng)測試及二維Mapping成像，并結(jié)合功率依賴測試驗證材料的二次非線性光學(xué)特性。

      光學(xué)明場照片                                                                         35°偏振                                                                          70°偏振

             光學(xué)明場照片                                                                         SHG mapping

n  SiC綜合表征測試（SHG / Raman / PL）

SHG1030支持擴展Raman及PL測試模塊，實現(xiàn)材料多維光學(xué)特性的綜合分析。

                                SHG極化圖                                                                          PL譜                                                                                       拉曼譜

         SHG成像                                                                              PL成像                                                                               拉曼成像

n  功率依賴SHG測試

通過改變激發(fā)功率，研究樣品SHG信號的響應(yīng)規(guī)律，驗證材料非線性光學(xué)特性。SHG強度與激發(fā)功率滿足平方關(guān)系（I_SHG ∝ P2），驗證二次非線性光學(xué)過程。

              不同激發(fā)光功率下SHG光譜                                                                                                                     對數(shù)坐標(biāo)下SHG強度與功率的關(guān)系