?   產品概述

SHG1030 二次諧波測試系統是一套基于非線性光學效應的顯微測試平臺，通過1030 nm激光激發樣品產生二次諧波（SHG）信號，實現材料晶體結構、晶向分布及非線性光學特性的表征分析。

系統主要由1030 nm激發模塊、偏振控制模塊、正置顯微鏡模塊、信號探測模塊、二維電動掃描模塊及數據采集分析軟件組成。集成顯微成像、高靈敏探測及自動掃描功能，可實現SHG光譜測試、偏振SHG測試、SHG Mapping成像及功率依賴SHG測試，適用于二維材料、寬禁帶半導體及非線性光學晶體等領域研究。

?   核心優勢

n  無需旋轉樣品：電動旋轉波片自動調節偏振狀態。

n  高靈敏信號檢測：PMT實現微弱SHG信號檢測。

n  自動掃描成像：同步觸發快速獲取Mapping結果。

n  模塊化拓展：支持SHG、PL及Raman拓展。

?   關鍵技術指標

注：支持根據用戶需求擴展不同激光波長、探測器及測試模塊。

?   主要功能

n  偏振SHG測試與成像

通過改變激發光偏振方向，記錄SHG信號強度隨偏振角變化規律，用于材料晶向及晶體對稱性分析。

         明場成像                                                                     SHG極化圖                                                                   SHG成像圖

n  WS?樣品SHG測試

以單層WS?為例，系統可實現不同偏振條件下的SHG響應測試及二維Mapping成像，并結合功率依賴測試驗證材料的二次非線性光學特性。

      光學明場照片                                                                         35°偏振                                                                          70°偏振

             光學明場照片                                                                         SHG mapping

n  SiC綜合表征測試（SHG / Raman / PL）

SHG1030支持擴展Raman及PL測試模塊，實現材料多維光學特性的綜合分析。

                                SHG極化圖                                                                          PL譜                                                                                       拉曼譜

         SHG成像                                                                              PL成像                                                                               拉曼成像

n  功率依賴SHG測試

通過改變激發功率，研究樣品SHG信號的響應規律，驗證材料非線性光學特性。SHG強度與激發功率滿足平方關系（I_SHG ∝ P2），驗證二次非線性光學過程。

              不同激發光功率下SHG光譜                                                                                                                     對數坐標下SHG強度與功率的關系